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片上系统测试设计与优化

片上系统测试设计与优化

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  • 作者:(瑞典)埃里克·拉森著;孙仁杰译
  • 出版时间:2023/11/1
  • ISBN:9787030769183
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:TP360.21 
  • 页码:328
  • 纸张:
  • 版次:01
  • 开本:16
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读者对象:数字IC前端设计人员、以及高等院校微电子、电子信息工程、计算机科学与技术等专业师生

本书旨在讨论片上系统(SoC)测试的相关问题,包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂,测试数据量不断增加,如何组织测试,即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。《BR》本书由三部分组成,在概述经典测试方法的基础上,介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难,并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。

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