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电阻抗断层成像技术——方法、历史和应用(第2版)

 电阻抗断层成像技术——方法、历史和应用(第2版)

定  价:200 元

        

  • 作者:安迪·阿德勒,大卫·霍尔德
  • 出版时间:2024/10/1
  • ISBN:9787567924680
  • 出 版 社:中国协和医科大学出版社
  • 中图法分类:R445 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:16开
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本书内容丰富,涵盖了EIT技术的各个方面。首先,回顾EIT的历史,了解EIT的起源和发展脉络,以及发展过程中的重大突破和里程碑事件。接着从EIT的基本原理出发,深入剖析了其数学基础和物理机制;进而详细介绍了EIT系统的硬件设计和软件设施,包括数据采集、图像重建等关键技术;最后,重点关注了EIT技术在医学、工业检测等领域的应用,展示了其巨大的应用潜力和价值。通过本书,将了解EIT在各种医学场景中的潜在应用,以及其在临床诊断、疾病监测和治疗过程中的价值。本书的出版能够推动EIT技术的发展和应用,为相关领域的科研和实践工作提供有益的参考和借鉴。

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