单板级JTAG测试技术

定　　价：58 元

• 作者：王承，刘治国编著
• 出版时间：2015/6/1
• ISBN：9787118099867
• 出 版 社：国防工业出版社

• 中图法分类：TN407 
• 页码：205
• 纸张：胶纸板
• 版次：1
• 开本：大32开

内容简介

本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。 本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。